• 名称电子能谱仪ESCALAB 250 Xi (光电子能谱XPS)
• 资产编号1300216
• 型号ESCSLAB 250Xi
• 规格
• 产地英国
• 厂家ThermoFisher(热电，赛默飞)/ESCALAB 250Xi
• 所属品牌ESCALAB 250Xi
• 出产日期2012-12-27
• 购买日期2012-12-27
• 所属单位B区
• 使用性质科研
• 所属分类大型贵重仪器
• 联系人吴正龙
• 联系电话58805597
• 联系邮箱wuzl@bnu.edu.cn
• 放置地点B-107房间

主要规格及技术指标

（1）微聚焦单色化小束斑XPS（小面积XPS）：单色X射线AlKαX射线，能量分辨高（≤0.5eV），空间分辨高（≤20μm），灵敏度高（Ag3d5/2峰强至2.5Mcps），样品损伤小，样品用量少；
（2）Mg/Al双阳极XPS：灵敏度高，分析速度快，可迅速获得样品表面大面积的平均信号。可对样品进行MgKα、AlKα两种X射线的交替XPS分析。最佳灵敏度达13Mcps；
（3）XPS深度剖析：计算机控制对中，旋转样品台，可提高深度分辨、消除阴影，对导体和非导体样品（磁性样品除外）进行深度剖析，类似俄歇电子能谱（AES）深度剖析；
（4）角分辨XPS （ARXPS）：样品表面超薄层非破坏深度剖析；计算机程序控制-90～60°，角分辨率优于1°；
（5）化学组分成像（Mapping）分析：组分元素及其化学态空间二维分布，空间分辨小于等于3μm，成像速度快，实时还原所记录的谱图，更有利于样品表面组分元素及其化学态的微区分布分析研究；
（6）样品表面惰性离子清洁：大束斑清洁：Ar离子束能300eV～3keV，束流大于20μA；小束斑刻蚀清洁：低能离子能量连续可调100eV～4keV，栅格式扫描，束流密度至5mA/cm2。

主要功能及特色

（1）微聚焦单色化小束斑XPS（小面积XPS）：高分辨表面元素及其价态分析；
（2）Mg/Al双阳极XPS：高灵敏度表面元素分析，成像分布，特殊分析；
（3）XPS深度剖析：薄膜材料和界面分析；
（4）角分辨XPS （ARXPS）：超薄膜的无损伤分析；
（5）化学组分成像（Mapping）分析：元素及价态面分布；
（6）样品表面惰性离子清洁：清洁样品表面污染层；

样本检测注意事项

固态样品包括粉体样，不含水等挥发性物质。磁性样品需要预先声明。详见附件内容。

设备使用相关说明

按学校有关规定执行。

备注

http://202.112.94.18/Equipment/Show?Id=88a1881b-f61f-4bb7-aa26-461cbb449486