多晶 X 射线衍射仪（Multi-Purpose Diffractometer）

生产厂商：荷兰马尔文帕纳科（Malvern Panalytical）

型      号：X’Pert PRO MPD（典型配置：Cu 靶）

放置地点：科技楼 B209

联系电话：010-58807684

性能指标 ：2θ 扫描范围：约 3-150°（依据光学件与几何）

                 角度最小步进：≤ 0.0001° 2θ；重复性≤ 0.001° 2θ

                 分辨率：配高分辨光学件时 FWHM 可达≈ 0.05°（粉末 Si 标准） 

                 X 射线源：封闭管常用 40 kV/40 mA（Cu/Co/Cr 可选）

                 检测器：X’Celerator/PIXcel 系列，高计数率≥ 10^6 cps

功能及应用：粉末物相鉴定与定量（Rietveld）：如水泥熟料 C3S/C2S 定量、锂电正极 NMC 相组成

                   晶粒尺寸与微应变分析（Scherrer/Williamson-Hall）：纳米 TiO2、沉积Ni 薄层

                   首选取向 / 织构评估：压制陶瓷、片状石墨增强复合材料

                   低角度小角域相（适用配置下）：层状材料的层间距判定（如黏土、有机膨润土） 

                   变温相变跟踪（配高温台）：尖晶石 / 钙钛矿在室温 -1200° C 的相转变

                   残余应力（配应力附件）：如车削后 Ti-6Al-4V 表层应力测定点阵参数精确测量

仪器配置 ：Cu 靶，PreFIX 可更换光学模块、可变狭缝 /Soller 狭缝、Kβ 滤波 / 单色器